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本实用新型公开了一种带有抗干扰帽的辐射制冷性能测试样品装置，包括底座、温度计、长杆、样品台、样品装置、抗干扰帽和辐射制冷试样，该温度计装设于该底座内，该长杆底端嵌入安装于该底座上，该样品台底端固定安装于该长杆上，该样品装置锁固安装于该样品台...
该专利属于厦门理工学院所有，仅供学习研究参考，未经过厦门理工学院授权不得商用。

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