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本发明公开了一种基于光纤点衍射干涉实验光线追迹的像差测量技术与装置，属于光学测量技术领域。利用两个光纤点光源模拟空间中的任意一条入射光线，点衍射产生近似理想的球面波，通过待测透镜和薄膜分光镜，在两个CCD像面上发生干涉。出射光线与像面相交于...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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