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本发明涉及数据传输检测领域，针对NAND flash数据传输中会产生错误的问题，提出了一种可以排除NAND flash自身存储产生错误的测试方法，即首先遍历设定范围内的DQS delay值，并利用NAND flash的寄存器读写操作比较写入...
该专利属于山东华芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东华芯半导体有限公司授权不得商用。

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