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本发明提供一种具有自动功能的非易失性半导体存储器，可提高对不能从外部控制其动作的存储器内的缺陷的检测率。其测试模式控制部分２９在测试模式时根据外部供给的设定信号生成检验信号ＦＶＯＫ、ＦＶＮＧ并且这些检验信号控制逻辑电路２７。因此，可以把控制...
该专利属于株式会社东芝所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社东芝授权不得商用。

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