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本发明提供一种状态检测方法与状态检测装置,用于检测存储器存储装置的状态。所述方法包括:建立与所述存储器存储装置的连线;对所述存储器存储装置执行第一检测程序,以对所述存储器存储装置进行初始错误分类;根据所述初始错误分类的分类结果对所述存储器存...该专利属于深圳宏芯宇电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳宏芯宇电子股份有限公司授权不得商用。
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本发明提供一种状态检测方法与状态检测装置,用于检测存储器存储装置的状态。所述方法包括:建立与所述存储器存储装置的连线;对所述存储器存储装置执行第一检测程序,以对所述存储器存储装置进行初始错误分类;根据所述初始错误分类的分类结果对所述存储器存...