下载多参数同步测量方法及装置、电子设备和存储介质的技术资料

文档序号:32222902

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本公开涉及一种多参数同步测量方法及装置、电子设备和存储介质,所述方法包括:控制光源照射被测量对象;获取所述被测量对象在所述光源照射下的第一图像;利用所述第一图像的多个第二波段的灰度值对所述第一图像的多个第三波段的灰度值进行校正,去除所述第一...
该专利属于清华大学所有,仅供学习研究参考,未经过清华大学授权不得商用。

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