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半导体器件及其制造方法技术
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文档序号:3222289
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目的是提供在Si衬底上边形成高品质的CaN系列化合物半导体层的半导体器件,构成是具备:Si衬底1;在Si衬底1上边形成的、由GaAs或As构成的应力吸收层2;在该应力吸收层2上边形成的由其组成为Al↓[x]Ga↓[1-x-y]In↓[y]N...
该专利属于三菱电机株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三菱电机株式会社授权不得商用。
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