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半导体存储器的加速试验方法技术
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文档序号:3221617
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在本发明的半导体存储器的加速试验方法中,求出在某个温度T↓[1]下的信息保持寿命时间t↓[1]等于另一个温度条件T↓[2]下的信息保持寿命时间t↓[2]的乘幂的关系式,t↓[1]=t↓[2]↑[m],而且用与玻尔兹曼因子成比例的温度的函数表...
该专利属于松下电器产业株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过松下电器产业株式会社授权不得商用。
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