温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

提供一种半导体元件测试装置，便于在即使ＩＣ组件类型变化时免除更换各ＩＣ插座的必要性。一容纳有待测试的ＩＣ的元件容放托架１００具有其敞开的底部。一纤细导线埋置构件１１０安装于元件容放托架的敞开底部。此导线埋置构件包括一弹性的橡胶板件１１１和许...
该专利属于株式会社爱德万测试所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社爱德万测试授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。