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一种半导体器件，包括一半导体芯片、一布线保护层和一不正常情况检测器。至少其中一个集成电路在半导体芯片上形成。布线保护层以极小的间距在集成电路上分布形成，且由导电光防护材料制成。布线保护层在集成电路工作时加有电源电压。不正常情况检测器监视加到...
该专利属于恩益禧电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩益禧电子股份有限公司授权不得商用。

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