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半导体器件的测试方法和带标识晶体管电路的半导体器件技术
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下载半导体器件的测试方法和带标识晶体管电路的半导体器件的技术资料
文档序号:3220234
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一个位于半导体芯片上的标识晶体管电路,包括一个P-型MOS晶体管和一个N-型MOS晶体管,相互串联在电源接点和地接点之间;一个第一反相器与测试信号端相连并输出给N-型MOS晶体管的漏极;一个第二反相器与第一反相器的输出相连并输出给P-型MO...
该专利属于日本电气株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过日本电气株式会社授权不得商用。
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