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本申请公开了一种芯片测试方法、装置、设备及可读存储介质。本申请将待测芯片划分为多个子系统；将每个子系统划分为多个模块，并将所有模块划分至多个集合；针对任一个集合，基于该集合中的各模块在待测芯片中的物理位置，为该集合中的各模块就近选择测试管脚...该专利属于山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司授权不得商用。