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本发明提供使被试验ＩＣ与接触部接触的接触臂，该接触臂备有保持头、浮动机构和流体压缸。上述保持头用于保持被试验电子零件。上述浮动机构，设在可接近或远离上述接触部的驱动机构与上述保持头之间，将保持头可摆动地支承在上述驱动机构上。上述流体压缸，设...
该专利属于株式会社爱德万测试所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社爱德万测试授权不得商用。

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