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CMOS技术中抑制窄宽度效应的方法技术
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文档序号:3216530
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一种用于制造具有浅沟槽隔离的半导体器件方法,在实施例中包括,在衬底中形成沟槽区,所述沟槽区具有基本上平坦的底部、第一和第二侧壁。该方法在沟槽区的底部、第一和第二侧壁上形成电介质衬垫。电介质衬垫为氮化硅化合物。电介质衬垫使阈值电压随宽度(V#...
该专利属于皇家菲利浦电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过皇家菲利浦电子有限公司授权不得商用。
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