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移动正离子污染的测试装置及方法制造方法及图纸
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文档序号:3215768
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一种移动正离子污染(PMIC)的测量装置,设置于半导体基底上。半导体基底上设置有MOS晶体管。移动正离子污染的测量装置则是由加热装置、温度测量装置、栅极所构成。加热装置是设置在等场氧化层的表面。温度测量装置是设置在加热装置的表面,以测量的温...
该专利属于华邦电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过华邦电子股份有限公司授权不得商用。
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