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一种用于测试被测试电子装置（ＤＵＴ）的基于事件的测试系统，该系统包括事件存储器，用来存储由基准时钟周期的整数倍数和分数倍数形成的每个事件的定时数据，其中，该定时数据表示一个当前事件和一个基准点之间的时间差；地址序列器，用来产生访问该事件存储...
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