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自动化集成电路整机测试系统、装置及其方法制造方法及图纸
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文档序号:3215723
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一种自动化集成电路整机测试系统、装置及其方法,该系统包括一机架,至少一测试用计算机设置于机架上用于承载及测试一被测集成电路,至少一自动插拔机构设置于机架上,适于将被测集成电路置入测试用计算机及自测试用计算机中移除;以及至少一控制装置,电连接...
该专利属于威盛电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过威盛电子股份有限公司授权不得商用。
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