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本实用新型提供一种大芯径光纤几何参数测试系统，包括第一位移台、第二位移台、单波长光源、包层光剥除器及光电成像系统；第一位移台用于固定待测光纤的第一端；第二位移台用于固定待测光纤的第二端；第一位移台与第二位移台呈间隔设置，以使得待测光纤处于弯...
该专利属于武汉睿芯特种光纤有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉睿芯特种光纤有限责任公司授权不得商用。

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