一种大芯径光纤几何参数测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种大芯径光纤几何参数测试系统，包括第一位移台、第二位移台、单波长光源、包层光剥除器及光电成像系统；第一位移台用于固定待测光纤的第一端；第二位移台用于固定待测光纤的第二端；第一位移台与第二位移台呈间隔设置，以使得待测光纤处于弯曲状态；单波长光源用于朝向待测光纤的第一端发射出单波长光束；包层光剥除器用于对待测光纤的部分包层进行剥除，以控制剥除的待测光纤中包层光的输出比例；光电成像系统用于对待测光纤的第二端输出的单波长光束进行光斑成像，并基于成像得到的光斑图像获取待测光纤的几何参数。本实用新型专利技术在对大芯径光纤进行几何参数测量时，可形成高对比度的成像光斑，确保了测量结果的准确性。果的准确性。果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种大芯径光纤几何参数测试系统


[0001]本技术涉及光纤测量
，尤其涉及一种大芯径光纤几何参数测试系统。

技术介绍

[0002]近年来，随着对特种光纤需求的与日俱增，尤其是随着大芯径光纤在高功率光纤激光器中的大量使用，大芯径光纤的几何参数测量一直没有得到很好地解决，各种不同结构的大芯径光纤的几何参数测量成为难题。目前，针对大芯径光纤的市场化的测试设备有且仅有美国的PHOTON KINETICS生产制造，此测试设备仅能测量圆形包层直径为130μm以下的光纤。
[0003]申请人在实现本申请实施例中技术方案的过程中，发现上述现有技术至少存在如下技术问题：
[0004]现有技术中的光纤几何尺寸测量只能检测常规包层通信用光纤，在对大芯径光纤进行几何参数测量时，难以形成高对比度的成像光斑，导致不能对大芯径光纤的几何参数进行准确测量。

技术实现思路

[0005]本技术提供一种大芯径光纤几何参数测试系统，用以解决当前在对大芯径光纤进行几何参数测量时，难以形成高对比度的成像光斑，导致测量结果不准确的问题。
[0006本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大芯径光纤几何参数测试系统，其特征在于，包括：第一位移台，所述第一位移台用于固定待测光纤的第一端；第二位移台，所述第二位移台用于固定所述待测光纤的第二端；所述第一位移台与所述第二位移台呈间隔设置，以使得所述待测光纤处于弯曲状态；单波长光源，所述单波长光源用于朝向所述待测光纤的第一端发射出单波长光束；包层光剥除器，所述包层光剥除器用于对所述待测光纤的部分包层进行剥除，以控制剥除的待测光纤中包层光的输出比例；光电成像系统，所述光电成像系统用于对所述待测光纤的第二端输出的单波长光束进行光斑成像，并基于成像得到的光斑图像获取所述待测光纤的几何参数。2.根据权利要求1所述的大芯径光纤几何参数测试系统，其特征在于，还包括：环形光源；所述环形光源同轴套设于所述待测光纤的第二端；所述环形光源用于朝向所述待测光纤的第二端的出光侧发出环形光。3.根据权利要求1所述的大芯径光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述单波长光束的入射方向沿所述待测光纤的第一端的中轴线排布；所述单波长光束的横截面积大于或等于所述待测光纤的第一端的端面面积。4.根据权利要求1所述的大芯径光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述包层光剥除器包括油浸式包层光剥除器。5.根据权利要求1所述的大芯径光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述第一位移台与所述第二位移台当中的至少一者为电控三维精密位移台，所述第一位移台与所述第二位移台安装于光学隔振平板上；和/或，所述第一位移台与所述第二位移台间隔的距离大于或等于所述待测光纤的最小弯曲半径的两倍。6.根据权利要求1至5任一所述的大芯径光纤几何参数测试系统，其特征在于，所述光电成像系统包括物镜变倍体与光电成像模块；所述物镜变倍体的一端朝向所述待测光纤的第二端，另一端朝向所述光电成像模块；所述物镜变倍体用于接收从所述待测光纤的第二端输出的单波长光束，并对所述单波长光束对应的光斑...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴杰，莫琦，刘锐，
申请(专利权)人：武汉睿芯特种光纤有限责任公司，
类型：新型
国别省市：