温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种分析动态随机存取存储器冗余位修复是否正确的方法，是在利用冗余位修复工艺之后，用以侦测修复是否正确的方法，主要是利用一集中光束照射在晶片上的芯片，然后观察照射后显示于屏幕的物理位元图的影像，当光束对准缺陷的阵列位置时，屏幕显示出两个类似半...
该专利属于联华电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联华电子股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。