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一种抗反射膜SiON表面CH 等离子体处理方法技术
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文档序号:3214080
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SiON是一种很有前途的无机抗反射膜材料,然而它的缺点是:存在光刻胶底膜的留存问题,主要原因是由于SiON表面的胺基(-NH#-[2])集团与光刻胶反应所致,这在很大的程度上影响了图形转移的准确性。随着工业生产中光刻向深紫外短波长转移--从...
该专利属于上海华虹(集团)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹(集团)有限公司授权不得商用。
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