下载采用氨中退火来建立超薄栅极绝缘体的方法的技术资料

文档序号:3213732

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

一种用于制造包含硅基底的半导体装置的方法,包括在基底上形成一层薄的氧化物底部薄膜,随后在氨中使该基底退火。然后以常规方法在栅极绝缘体上形成场效晶体管(FET)栅极。所产生的栅极绝缘体在电气上绝缘,并相比于传统的栅极氧化物绝缘体,其性能并无降...
该专利属于先进微装置公司所有,仅供学习研究参考,未经过先进微装置公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。