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平面单元存储元件的硅化物膜制造方法技术
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文档序号:3213699
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一种平面单元存储元件的硅化物膜的制造方法,其特征在于,包括以下步骤: 提供定义了平面单元阵列区和外围电路区的硅基片; 分别在所述基片的平面单元阵列区形成字线和位扩散层、在所述外围电路区板形成字线和源/漏结; 形成填平所述字...
该专利属于东部亚南半导体株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东部亚南半导体株式会社授权不得商用。
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