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监测自行对准硅化物残留的测试窗结构制造技术
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下载监测自行对准硅化物残留的测试窗结构的技术资料
文档序号:3213594
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一种监测自行对准硅化物残留的测试窗结构,该测试窗结构包含有一硅基底;复数列扩散区域互相平行设置于该硅基底表面;复数行多晶硅线,横跨于该复数列扩散区域上,且该复数行多晶硅线将该复数列扩散区域区隔出复数个接触洞区域,其中各该接触洞区域皆包含有一...
该专利属于联华电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联华电子股份有限公司授权不得商用。
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