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本发明公开了一种基于IC载板生产流程的自检方法及系统，其中，所述方法包括：获得第一载板生产流程的第一自检环节信息；根据第一自检装置的检测效率系数和所述第一载板生产流程的检测节点特征数据，获得第一生产特征损失函数；根据所述第一生产特征损失函数...
该专利属于深圳市卡博尔科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市卡博尔科技有限公司授权不得商用。

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