专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
联华电子股份有限公司
>
制作金氧半导体晶体管的方法技术
>技术资料下载
下载制作金氧半导体晶体管的方法的技术资料
文档序号:3213005
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种制作金氧半导体(MOS)晶体管的方法,其特征是:包含有: 提供一基底,其上具有一栅极; 进行一第一离子植入制程,以于该栅极两侧的该基底内各形成一第一掺杂区; 于该栅极的两侧壁上各形成一遮蔽层,且该遮蔽层包含一延伸部位于...
该专利属于联华电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联华电子股份有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。