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本发明提供了一种阻变存储器的制造方法,包括:在衬底上制备底电极层,底电极层材料为铝;通过氧等离子处理方法在底电极层上制备缓冲层,缓冲层材料为氧化铝;在缓冲层上制备阻变层;在阻变层上制备顶电极层。该阻变存储器的制造方法既能提升器件性能,也足够...该专利属于上海集成电路制造创新中心有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海集成电路制造创新中心有限公司授权不得商用。
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本发明提供了一种阻变存储器的制造方法,包括:在衬底上制备底电极层,底电极层材料为铝;通过氧等离子处理方法在底电极层上制备缓冲层,缓冲层材料为氧化铝;在缓冲层上制备阻变层;在阻变层上制备顶电极层。该阻变存储器的制造方法既能提升器件性能,也足够...