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一种用高准确性和可观察性调试在基于核的系统集成芯片（ＳｏＣ）Ｉｃ中个别核的方法，以及实现该方法的ＳｏＣ的结构。该方法包括构造用于ＳｏＣ的每个核的垫框的两个或更多金属层同时将在下面金属层上的Ｉ／Ｏ（输入和输出）垫连接到上面金属层，从而在每个核...
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