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本发明涉及一种集成电路的商标位置检测装置，其主要包含检测片及基座；该检测片是由透明抗静电压克力材料制成的片体，其上设有若干检测刻线，适当位置又设有若干定位孔；该基座上设有若干定位销，该若干定位销恰可对应于检测片的若干定位孔；因此，可于钉架上...
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