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本实用新型提供一种半导体器件退饱和状态检测电路，所述半导体器件退饱和状态检测电路包括用于驱动所述半导体器件的驱动单元、第一限流电阻、第一单向导通元件、第二单向导通元件、上拉电阻、稳压单元、故障信号生成单元及控制器。本实用新型的技术方案，能够...
该专利属于深圳市汇川技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市汇川技术股份有限公司授权不得商用。

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