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一种可以实时、在线测试可编程数字集成电路芯片内部所有信号的分析系统，它包含以下部分：预处理程序，前端可编程数字集成电路芯片及插头，后端可编程数字集成电路芯片，信号延迟及存储模块，时钟、触发及停止逻辑模块，后处理程序，软件仿真器；它的特征在于...
该专利属于刘建光、刘建平、胡亮所有，仅供学习研究参考，未经过刘建光、刘建平、胡亮授权不得商用。

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