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一种测试方法，特别是对测试一半导体装置（３ａ）以及一载具（１１ａ）间之接触，其中该方法包含下列步骤：　　　　以一半导体装置（３ａ）加载一载具（１１ａ），　　　　其特征在于该载具（１１ａ）以及该半导体装置（３ａ）之间的接触系在该半导体装置（３...
该专利属于因芬尼昂技术股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过因芬尼昂技术股份公司授权不得商用。

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