下载具有无凹痕浅槽隔离的半导体器件及其制造方法的技术资料

文档序号:3208595

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

一种制造半导体器件的方法,包括如下步骤:    (a)在半导体衬底的表面上形成图案,所述图案包括第一氮化硅膜并具有用于形成隔离沟槽的窗口;    (b)用所述图案作为掩模蚀刻所述半导体衬底,以形成隔离沟槽;    (c)沉积覆盖所述隔离沟槽...
该专利属于富士通株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过富士通株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。