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一种用于一芯片上的超大规模集成电路的分层电源噪声监视系统，所述系统包括：　　　　多个制造在芯片上的噪声监视单元（ＮＡＵ），用于测量芯片上的噪声并且被分布在芯片上的宏和内核中的关键之处；　　　　每个片上噪声分析单元（ＮＡＵ）测量芯片上的信号线...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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