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半导体存储器模块制造技术
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文档序号:3208481
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为了代替在模块基板2的表面的性能不合格的裸芯片1(芯片A)的BANK2和裸芯片1(芯片C)的BANK1、2的功能,在模块基板2的背面上安装虽然BANK0、1、3为不合格但BANK2的功能正常的修复芯片3(芯片AA)和虽然BANK0为不合格但...
该专利属于三菱电机株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三菱电机株式会社授权不得商用。
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