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本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种用于集成电路芯片的测试装置，通过将集成电路芯片分别放入测试座的上端部的第一容置槽内，并将定位销分别插入引脚插接孔内，集成电路芯片的侧壁分别与定位板的侧壁抵接，压板的下端壁分别与集成电路芯片的上端壁抵...
该专利属于百润生科技（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过百润生科技（深圳）有限公司授权不得商用。

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