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本发明是关于一种测试处理装置和方法，该为测试机提供电子元件的测试处理装置，包括与测试机通讯的测试机界面，至少二个元件界面，每个元件界面可通过第一连接与测试机界面接通，且每个元件界面可通过第二连接与连接到相应的电子元件组接通，第一和第二个连接...
该专利属于吴杰所有，仅供学习研究参考，未经过吴杰授权不得商用。

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