测试处理装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术是关于一种测试处理装置和方法，该为测试机提供电子元件的测试处理装置，包括与测试机通讯的测试机界面，至少二个元件界面，每个元件界面可通过第一连接与测试机界面接通，且每个元件界面可通过第二连接与连接到相应的电子元件组接通，第一和第二个连接之一是交替连接。与此相应的方法，包括把第一组电子元件连接到测试机界面测试，一旦完成该测试，就断开第一组电子元件和测试机界面的连接；将第二组电子元件连接到测试机界面测试，一旦完成该测试，就断开第二组电子元件和测试机界面的连接。本发明专利技术刻石先在不需提高测试处理机运行的速度的前提下取得更高的测试生产能力。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试处理装置及测试处理方法，特别是涉及一种用于测试电子元件的测试处理机上的测试处理装置及一种操作测试处理装置的方法。
技术介绍
测试处理装置用于为电子测试机自动提供待测试的电子元件，如半导体集成电路或其它电子元件。一台测试处理装置组成一台测试处理机的一部分，测试处理机还包括装载部分，与测试机相连的测试部分和卸载部分。装载部分用于装载若干储存电子元件的测试托盘，而卸载部分用于卸载这些测试托盘。首先将电子元件装载到测试部分，例如测试区，通常一次一组元件，元件组数取决于不同元件的测试条件及设置。典型的测试设置是一次可以测试每组一、二或四个元件，分别称作“单区”，“双区”或“四区”测试。然后“元件就绪”信号送入测试机以开始进行测试，同时处理机停止装载电子元件并等待测试完毕。一旦测试完毕，测试机停止测试，并送“测试完毕”信号给处理机。处理机然后从测试区取回已测试的电子元件，随后提供下一组电子元件给测试区以继续进行测试。重复上述周期，直到所有电子元件被测试完。为了提高测试效率和降低成本，测试机制造商已制造出越来越快的测试机。由于测试效率主要取决于全部测试时间，包括测试机和测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于向测试机提供电子元器件以进行测试的测试处理装置，其特征在于该测试处理装置包括：一个用于与测试机通讯的测试机界面；至少两个元器件界面，每个元器件界面可通过第一连接与测试机界面接通，且每个元器件界面可通过第二连接与相应的 一组电子元器件接通；其中第一连接及第二连接之一以交替连接形式接通。

【技术特征摘要】
SG 2001-7-6 200104055-91.一种用于向测试机提供电子元器件以进行测试的测试处理装置，其特征在于该测试处理装置包括一个用于与测试机通讯的测试机界面；至少两个元器件界面，每个元器件界面可通过第一连接与测试机界面接通，且每个元器件界面可通过第二连接与相应的一组电子元器件接通；其中第一连接及第二连接之一以交替连接形式接通。2.根据权利要求1所述的测试处理装置，其特征在于第一连接以交替连接形式接通，第二连接以同时连接形式接通。3.根据权利要求2所述的测试处理装置，其特征在于第一连接包括一个用于以交替连接形式将所述至少两个元器件界面与测试机界面接通的开关。4.根据权利要求3所述的测试处理装置，进一步包括一个用于向所述至少两个元器件界面提供待测电子元器件以进行测试，并在测试完毕后将电子元器件取走的装载及卸载组件。5.根据权利要求4所述的测试处理装置，其特征在于，该装载及卸载组件包括一个用于向所述至少两个元器件界面同时提供待测电子元器件以进行测试，并在测试完毕后将电子元器件从所述至少两个元器件界面同时取走的测试臂。6.根据权利要求4所述的测试处理装置，其特征在于，该装载及卸载组件包括至少二个用于向所述至少两个元器件界面交替提供待测电子元器件以进行测试，并在测试完毕后将电子元器件从所述至少两个元器件界面交替取走的测试臂。7.根据权利要求4所述的测试处理装置，其特征在于，该测试处理装置还包括一个于所述开关相关连已用于控制该装载及卸载组件的控制器。8.根据权利要求1所述的测试处理装置，其特征在于第一连接以同时连接形式接通，第二连接以交替连接形式接通。9.根据权利要求8所述的测试处理装置，进一步包括一个用于以交替形式向所述至少两个元器件界面提供待测电子元器件以进行测试，并在测试完毕后将电子元器件取走的装载及卸载组件。10.根据权利要求9所述的测试处理装置，其特征在于，该装载及卸载组件可在一个用于抓取待测电子元器件的输入段及一个靠近所述至少两个元器件界面的预连接位置之间运行，该装载及卸载组件进一步包括一个用于同时向所述预连接位置输送待测电子元器件的测试臂，以及一个用于以交替形式向所述至少两个元器件界面提供待测电子元器件以进行测试的执行器。11.根据权利要求9所述的测试处理装置，其特征在于，该装载及卸载组件包括至少两个可独立操作的测试臂，每个测试臂可在一个用于抓取待测电子元器件的输入段及一个靠近相应元器件界面的预连接位置之间运行，其中每个可独立操作的测试臂具有至少一个用于以交替形式向所述至少两个元器件界面提供待测电子元器件的执行器。12.一种用于测试电子元器件的测试处理装置，其特征在于该测试处理装置包括一个外部通讯界面；一个用于接收第一组电子元器件以进行测试的第一测试插座；一个用于接收第二组电子元器件以进行测试的第二测试插座，以及一个用于将所述第一及第二测试插座以交替形式与该外部通讯界面相连通的开关。13.根据权利要求12所述的测试处理装置，进一步包括一个用于向所述第一及第二测试插座分别提供第一组及第二组待测电子元器件以进行测试，并在测试完毕后将第一组及第二组电子元器件取走的装载及卸载组件。14.根据权利要求13所述的测试处理装置，其特征在于，该装载及卸载组件包括一个用于向所述第一及第二测试插座同时提供第一组及第二组待测电子元器件以进行测试，并在测试完毕后将第一组及第二组电...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴杰，
申请(专利权)人：吴杰，
类型：发明
国别省市：SG[新加坡]