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本申请提供了一种用于芯片测试的三维测试板和多工位三维测试板，该三维测试板包括分离设置的测试母板和单工位测试电路板；测试母板用于安装待测试芯片；测试母板连接单工位测试电路板，测试母板用于连接自动化集成电路测试机，利用自动化集成电路测试机对待测...
该专利属于上海艾为电子技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海艾为电子技术股份有限公司授权不得商用。

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