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制造半导体器件的等离子体刻蚀方法和设备技术
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文档序号:3207111
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一种制造半导体器件的等离子体刻蚀设备,该等离子体刻蚀设备包括: 处理室,内装要刻蚀的晶片; 第一顶,密封处理室的上端; 线圈,绕在处理室顶上,产生引入处理室的电场; 至少一个发光极尖,它穿过顶的预定部分设置,向晶片发...
该专利属于自适应等离子体技术株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过自适应等离子体技术株式会社授权不得商用。
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