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稳定材料层性质的方法技术
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文档序号:3206687
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本发明公开了一种稳定材料层的方法,此方法将多个存放于晶片盒的晶片,依序送入反应室中进行材料层沉积,之后并传送至持续通入特定气体的晶片盒中存放,直到晶片盒内所有晶片都已经过处理。由于在进行材料层的沉积过程中,已形成有材料层的晶片存放于持续通入...
该专利属于力晶半导体股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过力晶半导体股份有限公司授权不得商用。
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