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用于后端线互连结构的具有增强粘合力及低缺陷密度的低介电常数层间介电膜的制造方法技术
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下载用于后端线互连结构的具有增强粘合力及低缺陷密度的低介电常数层间介电膜的制造方法的技术资料
文档序号:3206411
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一种基本上无缺陷的、具有改进的粘合性的低介电常数介电膜,其通过以下步骤形成:(a)将包含至少一个可聚合基团的硅烷偶联剂涂敷到基板的表面,以提供在所述基板上的所述硅烷偶联剂的基本上均匀的涂层;(b)在约90℃或更高的温度下,加热包含所述硅烷偶...
该专利属于国际商业机器公司所有,仅供学习研究参考,未经过国际商业机器公司授权不得商用。
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