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本发明涉及大规模集成电路技术领域，特别是一种即插即用片上测试向量生成电路及方法。该方法和电路核心是一个非侵入式的片上测试向量生成电路。该测试向量生成电路由两个主要部分和冷冻控制电路构成，两个主要部分是：１）译码器。该译码器根据从测试设备装载...
该专利属于中国科学院计算技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院计算技术研究所授权不得商用。

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