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侦测各向异性导电胶导电粒子变形量的方法和结构技术
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文档序号:3204531
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一种侦测各向异性导电胶导电粒子变形量的结构,包括一基板,其中基板上形成有多个金属凸块,及多个具有不同高度的标尺凸块位于基板上。藉此,基板与另一基板结合时,在粘合过程中具有高度超过两基板间的间隙的标尺凸块顶部产生挤压而变形,并以此判断两基板的...
该专利属于友达光电股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过友达光电股份有限公司授权不得商用。
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