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本实用新型公开了一种IC元件检验用治具，包括可相互盖合的第一基座和第二基座，所述第一基座和所述第二基座之间形成有若干相连通的储料腔和插口，所述插口用于插入IC料管，所述储料腔用于在倾斜所述第一基座、所述第二基座和所述IC料管时容纳从所述IC...
该专利属于京隆科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京隆科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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