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一种半导体装置的测试方法，包括：将半导体装置中的区域划分为多个分隔区域；提取各个分隔区域中从寄存器到其它寄存器的所有路径作为候选路径；计算候选路径的信号传输的延迟时间，选择各分隔区域中延迟时间最大的候选路径作为关键路径；对各分隔区域中的关键...
该专利属于松下电器产业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过松下电器产业株式会社授权不得商用。

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