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本申请公开了一种LDMOS导通电阻的测量电路，涉及电子器件检测技术领域。LDMOS导通电阻的测量电路，包括：LDMOS器件，设置有漏极框架、源极框架；漏极框架设有第一点集、第二点集，源极框架设有第三点集、第四点集，第一点集、第二点集、第三点...
该专利属于东莞市长工微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东莞市长工微电子有限公司授权不得商用。

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