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硅化金属制造的方法技术
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文档序号:3202468
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一种形成硅化金属(silicide)的处理方法,包含: 提供一半导体结构,该半导体结构具有一半导体表面与一绝缘表面; 形成一外延层于该半导体表面上; 处理该半导体结构,其中,该处理步骤中对该绝缘表面的移除速率大于对该外延层...
该专利属于联华电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联华电子股份有限公司授权不得商用。
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