下载非易失性半导体存储器件的技术资料

文档序号:3201749

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非易失性存储元件(10)通过依次层叠下部电极(7)、可变电阻体(8)和上部电极(9)构成,可变电阻体(8)在结晶和无定形混合存在的状态下成膜,形成非易失性存储元件(10)。更为理想的是,可变电阻体(8)是在350℃~500℃的范围内的成膜温...
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