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半导体器件及其制造方法技术
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文档序号:3201224
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在沟栅极型MISFET中,通过用于形成第一高浓度P型源区(6)的第一注入,注入杂质,达到深处,通过用于形成第二高浓度P型源区(8)的第二注入,提高半导体区(14)的上表面附近的杂质浓度。据此,能可靠地使栅极(5)和第一高浓度P型源区(6)重...
该专利属于松下电器产业株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过松下电器产业株式会社授权不得商用。
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